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本所成員

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張木彬

講座教授
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研討會論文
1

新型專利：大氣落塵化學成分採樣裝置(專利號碼:M347567，專利期間:2008/12-2018/6)。

2

發明專利：去除戴奧辛類化合物的系統及方法(專利號碼: I424877,專利期間: 2014/2-2031/11)。

3

發明專利：戴奧辛類測試樣品之製造方法(專利號碼: I385372，專利期間: 2013/2-2030/10)。

4

發明專利：用於處理含氮氧化物尾氣之觸媒的製備方法及處理含氮氧化物尾氣之方法(專利號碼: I648102，專利期間: 2019/1/21-2038/4/19)。